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86038B 光色散和损耗分析仪

  • Keysight 86038B光色散和损耗分析仪集速度与精度于一身,可实现完整的光纤及元件测量,是开发和生产用理想设备。 其测量基于行业标准的调制相位转换(MPS)法,由于该测试系统的结构
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产品简介

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Keysight 86038B光色散和损耗分析仪集速度与精度于一身,可实现完整的光纤及元件测量,是开发和生产用理想设备。 其测量基于行业标准的调制相位转换(MPS)法,由于该测试系统的结构是模块化的,用户还能定制其所需的配置方式以满足测试所需。

通过一次性对器件的连接,只需键一下按钮,86038就能测量光谱群延迟(GD)、色散(CD)、差分群延迟(DGD)、偏振模式色散(PMD)、插入损耗或增益(IL),以及偏振相关损耗(PDL)。此外,它还能进行非常精确的光纤长度测量。 另外,高级矩阵分析还提供二阶偏振模式色散功能。

86038B可用于各种波长选件,从而提供前所未有的从1260至1640 nm波长的精确测量;与Keysight 81600B可调谐激光源选件一同使用,还可对单束激光进行高达200 nm范围的测量。是德可提供快速扫频波长测量的所有参数。

86038B的主要应用包括:网络设备的设计和生产、特别是10 Gb/s和40 Gb/s传输设备;光纤制造、特别是当今用于CWDM系统的全频光纤;用于高速传输系统的色散补偿模块、光纤及DWDM滤波器的设计和生产。

  • 具有色散和损耗测试的全面特征,依赖波长和偏振,采用行业标准MPS方法
  • 可确定光谱GD、CD、DGD、PMD、IL、PDL,分析二阶PMD、GD波形、零色散波长和CD 斜率,并准确地确定光纤或设备长度
  • 提供快速扫频波长测量的所有参数
  • 借助部分选件,其最广泛应用的波长范围可达1260-1640 nm,其中单独一个选件就能实现高达200 nm频段的扫描
  • 为可选模块转换提供集成支持,用于多端口测试
  • 提高了IL和PDL的精度,可用于重要元件测试
  • 模块化的灵活特性,配有具有LAN、USB和GPIB接口的Windows操作系统,以及具有远程控制能力
  • 成都市和微电子现有3台86038B光色散和损耗分析仪对外租赁,
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